Резюме:

   Решетняк Максим Вячеславович

научный сотрудник, доцент

каф. Физики металлов и полупроводников НТУ ХПИ,

канд. физ.-мат. наук  

Краткие биографические сведения

1. 1977-1984гг. общеобразовательная школа №9 г.Харькова.
2. 1984-1987гг. физико-математическая школа №27 г.Харькова.
3. Учеба в Харьковском политехническом институте 1987-1988гг.
4. Служба в рядах Советской армии 1988-1989гг.
5. Учеба в институте 1989-1994гг. Специальность - физика металлов.
6. Работа на каф. Физики Металлов и Полупроводников 1994-1996. Исследователь-стажер.
7. Учеба в аспирантуре 1996-1999 гг.
8. С 1997 г. преподаватель-стажер. 
9. Младший научный сотрудник 2000-2002гг.
10. Защитил кандидатскую диссертацию на тему "Разработка методики полнопрофильного анализа спектров рентгеновской флуоресценции" в 2001 г.
11. Научный сотрудник с 2002 г.
12. Старший преподаватель с 2005 г.
13. Доцент кафедры физики металлов и полупроводников с 2006 г.

Научные интересы

1. Разработка алгоритмов и методов обработки экспериментальных данных.
2. Анализ рентгеновских спектров и микроскопических изображений.
3. Построение систем с элементами искусственного интеллекта.

Лекционные курсы

1. Основы Информатики, Программирования и Вычислительной Техники (1,2 и 4 курс).
2. Технология производства и обработки материалов (2 курс).
3. Математическое моделирование и оптимизация технологических процессов (3 курс).
4. Численные методы математики и математической физики (5 курс).
5. Основы научных исследований (4 курс)
6. Организация физического эксперимента (5 курс).

Список избранных публикаций

1. Михайлов И.Ф., Решетняк М.В., Решетняк Е.Н. Вклад ошибок измерения длины волны и интенсивности в дисперсию приведенной погрешности для линий рентгеновского спектра // Вісник Сумського державного університету. –2000.- №17. –С. 47-53.
2. Reshetnyak M.V., Mikhailov I.F. X-ray fluorescent analysis of multi-component system compositions // Functional materials. –2000. –V.7, №2. –P.311-314.
3. Mikhailov I.F.,  Reshetnyak M.V.,  Fomina L.P.   Effective  thickness  determination  of  nikel  and niobium films from X-ray fluorescence intensity // Functional materials. –1999. –V.6, №5. –P.980-981.
4. Михайлов И.Ф., Решетняк М.В. Определение следов примесей путем полнопрофильного анализа рентгенофлуоресцентных спектров // Труды VII международного симпозиума «Чистые металлы » (МСЧМ-7).-Харьков.-2001.-С.66-68.
5. Гладких Л.И., Михайлов И.Ф., Решетняк М.В., Борисова С.С., Соболь О.В., Фомина Л.П.Методические указания к лабораторным работам по курсу «Актуальные проблемы физического материаловедения» НТУ «ХПИ», Харьков, -2006.

Хобби и увлечения

1. Прикладное и системное программирование.
2. Туризм.
3. Чтение хорошей фантастики и классических детективов.