New Profile и расчет микронапряжений - возможно ли?

Дата: Понедельник, 21-12-2009, 10:17 AM | Сообщение # 1

Рядовой

Группа: Заблокированные

Сообщений: 2

Репутация: 0

Статус: Offline

Добрый день,
Не пробовали ли вы использовать New Profile для расчета микронапряжений кристаллической решетки и какую методику использовали?

Есть необходимость в определении микронапряжений решетки методом гармонического анализа, но пока не получается связать методику, описанную в "Рентгенографический и электронооптический анализ"(Горелик, Расторгуев, Скаков) и результаты расчета(разложение в ряд Фурье) NewProfile

Не посоветуете, как решить эту задачу?

remax

Дата: Суббота, 26-12-2009, 1:41 AM | Сообщение # 2

Admin

Группа: Администраторы

Сообщений: 165

Репутация: 2

Статус: Offline

Конечно возможно. Один из вариантов, используемый в студенческой лабораторной работе, описан в методических указаниях "Определение размера областей когерентного рассеяния и величины микродеформаций способом гармонического анализа формы дифракционного профиля", размещенных в нашем каталоге файлов.

Aleks

Дата: Понедельник, 28-12-2009, 2:19 PM | Сообщение # 3

Рядовой

Группа: Заблокированные

Сообщений: 2

Репутация: 0

Статус: Offline

Спасибо, будем изучать smile

remax

Дата: Вторник, 29-12-2009, 3:45 AM | Сообщение # 4

Admin

Группа: Администраторы

Сообщений: 165

Репутация: 2

Статус: Offline

Успехов!

Mammoth

Дата: Суббота, 18-12-2010, 1:45 AM | Сообщение # 5

Рядовой

Группа: Пользователи

Сообщений: 2

Репутация: 0

Статус: Offline

Доброго времени суток. Занялся этой проблемой. Методичка - отличное подспорье. smile

Большое вам спасибо. Однако возникло несколько вопросов. Если есть возможность, не могли бы вы предоставить одну полностью рассчитанную лабораторную работу? Это многое бы прояснило.

remax9528

Дата: Суббота, 25-12-2010, 1:03 AM | Сообщение # 6

Рядовой

Группа: Администраторы

Сообщений: 12

Репутация: 1

Статус: Offline

Доброго. Не обещаю - в электронном виде лабораторок нет, а сканировать - нет времени и желания....

Mammoth

Дата: Воскресенье, 26-12-2010, 1:28 AM | Сообщение # 7

Рядовой

Группа: Пользователи

Сообщений: 2

Репутация: 0

Статус: Offline

Понял. Просто я предположил из методички, что работы выполняются и в электронном виде. В таком случае составлю список интересующих вопросов, и, если вы найдете время на них ответить, выложу их и файл экселя (или ориджина, если вам так будет удобнее) с расчетами.

remax9528

Дата: Вторник, 01-02-2011, 2:42 PM | Сообщение # 8

Рядовой

Группа: Администраторы

Сообщений: 12

Репутация: 1

Статус: Offline

Если еще актуально, то пример выполнения работы: (фотографии)

kachaev

Дата: Вторник, 26-04-2011, 9:42 PM | Сообщение # 9

Рядовой

Группа: Пользователи

Сообщений: 3

Репутация: 0

Статус: Offline

Доброго времени суток. Сразу же хочется поблагодарить за вашу работу над программой. Не так давно узнал о её существовании, начал разбираться с самой программой и методами расчёта ОКР и микронапряжений. Поэтому могу задавать тупые. Вы уж меня простите smile

.
Первый вопрос. Правильно ли я понял, что для расчета ОКР и микронапряжений программе необходим эталонный образец аналогичный (идентичный фазовый состав, крупнодисперсный и без дефектов решетки) исследуемому?

Сообщение отредактировал kachaev - Среда, 27-04-2011, 10:42 AM

remax9528

Дата: Понедельник, 02-05-2011, 10:06 PM | Сообщение # 10

Рядовой

Группа: Администраторы

Сообщений: 12

Репутация: 1

Статус: Offline

Доброго. ))) Да, действительно, для использования гармонического анализа (да, впрочем, и всех других подобных методов) "необходим эталонный образец аналогичный (идентичный фазовый состав, крупнодисперсный и без дефектов решетки) исследуемому". Конечно, это в теории, а на практике далеко не всегда удается такой "идеальный" эталон. Поэтому, в качестве эталона можно брать и другой образец, но иметь в виду - что, чем больше отклонений от необходимых требований, тем менее достоверны получаемые результаты.

kachaev

Дата: Вторник, 03-05-2011, 8:07 AM | Сообщение # 11

Рядовой

Группа: Пользователи

Сообщений: 3

Репутация: 0

Статус: Offline

Надеялся я на то, что обойдусь одним стандартом, но придётся моделировать эталон в PowderCell.
В лабораторной выложенной двумя постами выше в таблице 3 перепутаны значения в строках AL(n) и lnAL(n)?

remax9528

Дата: Среда, 04-05-2011, 0:23 AM | Сообщение # 12

Рядовой

Группа: Администраторы

Сообщений: 12

Репутация: 1

Статус: Offline

Quote (kachaev)

Надеялся я на то, что обойдусь одним стандартом, но придётся моделировать эталон в PowderCell.

Ну, это не совсем правильно. Смотрите - вся идея в том, что на образец и на эталон действует одинаковое инструментальное уширение. Поэтому, чтобы правильно разделить в образце эффект от физического уширения и от инструментального, и нужен эталон снятый на том же оборудовании. Иначе, это гадание на кофейной гуще....

remax9528

Дата: Среда, 04-05-2011, 0:26 AM | Сообщение # 13

Рядовой

Группа: Администраторы

Сообщений: 12

Репутация: 1

Статус: Offline

Quote (kachaev)

В лабораторной выложенной двумя постами выше в таблице 3 перепутаны значения в строках AL(n) и lnAL(n)?

Возможно. Я особо не проверял. Просто взял одну из "отличных работ".

kachaev

Дата: Воскресенье, 08-05-2011, 10:18 AM | Сообщение # 14

Рядовой

Группа: Пользователи

Сообщений: 3

Репутация: 0

Статус: Offline

Quote (remax9528)

Эталоны на некоторые образцы найти практически невозможно. Чтобы не гадать на кофейной гуще, я снял эталон поставляемый с дифрактометром (в моём случае кремний), рассчитал на нём в PowderCell параметры полуширины (U, V, W) и значение аппаратного уширения дифрактометра. Расчет ОКР с применение смоделированного с этими параметрами эталона для New_Profile показал очень близкие результаты с расчетом по Холлу-Вильямсону. Расхождение 1 нм - возможно просто совпадение :), буду проверять на других образцах.

Добавлено (08-05-2011, 10:18 Am)
---------------------------------------------
Есть ли способ найти A1(n) не используя график?